垂直振動實驗臺型號性能：

全數(shù)字式架構(gòu)設(shè)計：MCU+DSP+FPGA協(xié)同處理架構(gòu);

采用多級閉環(huán)控制策略數(shù)字控制算法，具有的功率輸出性能;

模塊化設(shè)計，根據(jù)輸出功率需求自由擴展;

基于軟啟動技術(shù)，開關(guān)頻率高達150KHz，具有優(yōu)秀的噪聲特性;

采用IGBT新型功率器件，具有高耐壓、高功率、高可靠性;

采用自動均流策略，并聯(lián)均流不平衡度<1%。

垂直振動實驗臺型號

垂直擴展臺面及水平滑臺：

當(dāng)試驗件的尺寸大于電動振動臺的臺面尺寸，增加輔助用的垂直擴展臺和水平滑臺可以滿足客戶對于振動臺性能擴展的要求，增加試驗附加裝置的安裝面積。擴展臺面的材料可選擇較輕的鎂合金或者更為經(jīng)濟的鋁合金制成。高質(zhì)量的精加工鑄造工藝保證擴展臺面擁有更好的強度重量比和更好的頻率傳遞率。

我們?yōu)橛脩籼峁┩陚涞乃交_、擴展臺面等配套產(chǎn)品，用戶可以進行一站式配套選擇。 更多水平滑臺，擴展臺面的詳細參數(shù)請與我們聯(lián)系。

公司致力于為客戶提供完善的產(chǎn)品及售后服務(wù)，我司在華東，華南，華北和西北地區(qū)均設(shè)有售后服務(wù)網(wǎng)點。秉承“質(zhì)量為本、誠信為旨、致力創(chuàng)新、至誠服務(wù)"的企業(yè)理念。

試驗臺執(zhí)行標準：

GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動(正弦)

GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機振動-一般要求

GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda 寬頻帶隨機振動-高再現(xiàn)性

GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb 寬頻帶隨機振動-中再現(xiàn)性

GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc 寬頻帶隨機振動-低再現(xiàn)性

GB/T2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法

技術(shù)規(guī)格：

用戶根據(jù)產(chǎn)品要求選購：