可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于考察 電工電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在不同溫濕度條件下，其耐潮濕能力，還可以作為在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性試驗(yàn)。在測試期間遇到不同狀況有不同處理方法，下面是針對(duì)各狀況的分析：

　　可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)中斷分為三種情況考慮，即容差范圍內(nèi)的中斷、欠試驗(yàn)條件中斷和過試驗(yàn)條件中斷，不同的情況有不同的處理方法。

　　對(duì)無法測量溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品規(guī)定了所需較短時(shí)間，即在不工作狀態(tài)下，無法測量時(shí)，溫度穩(wěn)定較短時(shí)間為3小時(shí)，在工作狀態(tài)下，溫度穩(wěn)定較短時(shí)間為2小時(shí)，在實(shí)際工作中，就以2小時(shí)當(dāng)作溫度穩(wěn)定時(shí)間。當(dāng)試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，如果試驗(yàn)樣品周圍溫度突然變化時(shí)，處于熱平衡狀態(tài)下的試驗(yàn)樣品也相應(yīng)地存在一個(gè)時(shí)滯，即在時(shí)間很短的情況下，試驗(yàn)樣品內(nèi)部的溫度不至于有太大的變化。

　　對(duì)容差范圍內(nèi)的中斷，當(dāng)中斷期間試驗(yàn)條件沒有超出允許誤差范圍時(shí)，中斷時(shí)間應(yīng)作為總試驗(yàn)時(shí)間的一部分;對(duì)欠試驗(yàn)條件的中斷，當(dāng)試驗(yàn)條件低于允許誤差下*，應(yīng)從低于試驗(yàn)條件的點(diǎn)重新達(dá)到預(yù)先規(guī)定的試驗(yàn)條件，恢復(fù)試驗(yàn)，一直進(jìn)行到完成預(yù)定的試驗(yàn)周期;對(duì)過試驗(yàn)樣品重做，如果過試驗(yàn)條件不會(huì)直接造成影響試驗(yàn)條件中斷處理，如果以后試驗(yàn)中出現(xiàn)試驗(yàn)樣品失效，則應(yīng)認(rèn)為此試驗(yàn)結(jié)果無效。

　　在試驗(yàn)過程中，如果遇到突然停水、停電或試驗(yàn)設(shè)備故障的情況，先應(yīng)密閉試驗(yàn)箱門，因?yàn)樵囼?yàn)設(shè)備突然停止運(yùn)行時(shí)，只要密閉箱門，試驗(yàn)箱門的溫度不會(huì)急劇地變化，在時(shí)間很短的情況下，試驗(yàn)樣品內(nèi)部的溫度也不會(huì)有太大的變化;然后，確定這次中斷是否對(duì)試驗(yàn)樣品造成影響，如果對(duì)試驗(yàn)樣品沒有造成影響，并且試驗(yàn)設(shè)備能夠在短時(shí)間內(nèi)恢復(fù)正常工作，就可以按照GJB150所規(guī)定的欠試驗(yàn)條件中斷的處理方法繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)，除非試驗(yàn)的中斷對(duì)試驗(yàn)樣品造成了一定的影響。

　　在實(shí)際工作中，對(duì)因試驗(yàn)樣品的故障引起的試驗(yàn)中斷，采用待試驗(yàn)樣品修復(fù)后重新試驗(yàn)的方法;對(duì)于因試驗(yàn)設(shè)備的原因而引起的試驗(yàn)中斷，如果中斷時(shí)間不是很長(2小時(shí)以內(nèi))，通常按照GJB150中規(guī)定的欠試驗(yàn)條件中斷進(jìn)行處理，如果時(shí)間過長，這項(xiàng)試驗(yàn)必須重做。

　　之所以這樣應(yīng)用試驗(yàn)中斷處理的規(guī)定，是由試驗(yàn)樣品溫度穩(wěn)定的規(guī)定來決定的。

　　溫度試驗(yàn)中有關(guān)試驗(yàn)溫度下的持續(xù)時(shí)間的確定常以試驗(yàn)樣品在該溫度下達(dá)到溫度穩(wěn)定為準(zhǔn)。

　　由于產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和材料以及試驗(yàn)設(shè)備能力的不同，不同產(chǎn)品在同一溫度下達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間是不同的。當(dāng)把試驗(yàn)樣品的表面被加熱量(或冷卻)，然后逐漸傳到試驗(yàn)樣品內(nèi)部。

　　這樣一個(gè)導(dǎo)熱過程是一個(gè)穩(wěn)定導(dǎo)熱過程，試驗(yàn)樣品內(nèi)部溫度達(dá)到熱平衡要比試驗(yàn)樣品表面達(dá)到熱平衡的時(shí)間存在一個(gè)時(shí)滯，這個(gè)時(shí)滯就是溫度穩(wěn)定時(shí)間。